产品库 > 半导体 > EFA 电性失效分析 > FI-Fault isolation 失效定位

Meridian S 系统 倒置静态光学故障隔离系统

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· 使用主动探针技术的故障诊断
· 静态激光刺激 (SLS/OBIRCH) 和光子发射选项
· 支持微探测和探针卡设备两种刺激

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