产品库 > 半导体 > EFA 电性失效分析 > FI-Fault isolation 失效定位

ELITE系统 利用锁相红外热成像 (LIT) 准确有效定位

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· 完全无损
· 快速识别装配板上有缺陷的组件以进行准确的处置
· 以千分尺准确度定位 x-y 缺陷，深度位置准确度高达 20 µm

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