产品库 > 半导体 > EFA 电性失效分析 > Nanoprobing 纳米探针系统

nProber IV 系统 极先进的纳米探测系统

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· 定位晶体管和 BEOL 故障
· 热纳米探测（-40°C 至 150°C）
· 半自动操作

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