产品库 > 半导体 > PFA 物性失效分析 > TEM 透射电子显微镜

Talos F200E TEM 广泛的半导体和微电子设备进行可重复的大批量分析

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· 高质量 (S)TEM 成像，失真度低
· 精确、高速的化学表征
· 专门的半导体相关应用

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