产品库 > 半导体 > PFA 物性失效分析 > TEM 透射电子显微镜

Spectra Ultra TEM 用于半导体应用的高分辨率TEM

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· 快速高张力切换，根据实验需要调整电压
· 光束敏感样品的最低剂量STEM EDX 研究
· 对各种材料进行原子级分析

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