TEM 透射电镜

针对所有材料科学应用提供快速、精确和定量表征

SEM 扫描电镜

高度的灵活性和丰富的功能，满足广泛的研究和工业需求

FIB 聚焦离子束电镜

适用于自动结构分析、TEM 样品制备以及纳米原型设计

XPS X射线电子能谱

进行表面分析的标准工具